Сетевое издание

Международный студенческий научный вестник

ISSN 2409-529X

• Авторы
• Резюме
• Файлы
• Ключевые слова
• Литература

Гусев А.М. 1 Лапшин Э.В. 1 Беликов Г.Г. 1 Наумова И.Ю. 1 Горячев Н.В. 1 Гришко А.К. 1

---

1 Пенза, ул. Красная, 40

В данной статье проведен структурно-разностный анализ элемента полутонового растрового изображения. Рассмотрена конкретная окрестность элемента. Анализ показал, что данный элемент относится к классу позитивных элементов. Существует большое количество полутоновых растровых изображений, объекты которых расположены на неравномерном фоне со значимой случайной компонентой. Даже при не очень большом контрасте этой компоненты часто не представляется возможным решить задачу автоматического обнаружения и распознавания объектов с помощью традиционных методов уровнево-пороговой бинаризации изображения. При этом органолептическое обнаружение и распознавание изображений объектов осуществляются очень легко. Это связано с тем, что градиент интенсивности регистрируемого параметра по периметру объекта существенно превосходит градиент такой интенсивности в области фона и во внутренних фрагментах объекта. По этим различиям наблюдатель и отличает объектную область от фоновой. Для того, чтобы система технического зрения обрабатывала подобные изображения, необходимо отработать алгоритм структурного анализа разностей интенсивности регистрируемого параметра в окрестностях растровых элементов. В данной статье проанализирована одна из ситуаций, которая может возникнуть на реальном изображении.

Статья в формате PDF

89 KB

сегментация

бинаризация

структура

разность

растровый элемент

изображение.

1. Григорьев А.В. Информационно-измерительная система для контроля микроструктуры и фазового состава тонкоплёночных материалов. // Диссертация на соискание учёной степени кандидата технических наук / Пенза, 1999.

2. Григорьев А.В. Первичная обработка электронно-дифракционных поверхностей. // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2006. Т. 1. С. 197-198.

3. Григорьев А.В., Граб И.Д. Приоритет склона электронно-дифракционного рефлекса. // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2007. Т. 1. С. 106-107.

4. Григорьев А.В., Граб И.Д., Трусов В.А., Баннов В.Я. Оконтуривание склона электронно-дифракционного рефлекса. // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2008. Т. 1. С. 332-334.

5. Григорьев А.В., Држевецкий А.Л., Граб И.Д., Баннов В.Я. Нижний контур склона электронно-дифракционного рефлекса. // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2009. Т. 2. С. 127-128.

6. Григорьев А.В., Држевецкий А.Л., Граб И.Д. Уровни предпочтений в системе распознавания электронно-дифракционных картин. // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2010. Т. 1. С. 396-399.

7. Григорьев А.В., Држевецкий А.Л. Уточнение характеристических признаков и логического функционала структурно-разностной сегментации полутонового изображения. // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2011. Т. 1. С. 312-315.

8. Григорьев А.В., Држевецкий А.Л., Юрков Н.К. Способ обнаружения и идентификации латентных дефектов печатных плат. // Труды международного симпозиума «Надежность и качество». 2013. Т. 1. С. 15-19.

9. А.с. 1837335 СССР G 06 K 9/00. Устройство для селекции изображений. / А.Л. Држевецкий, В.Н. Контишев, А.В. Григорьев, А.Г. Царёв. // Выдано 19.08.1993г. / БИ, 1993, №32.

10. Кузнецов С.В., Григорьев А.В., Држевецкий А.Л., Трусов В.А., Баннов В.Я. Структурно-разностный анализ «НизНКНизНК» элемента. // «Современные наукоемкие технологии», 2014, № 5, часть 1 С. 65-66.

Принципы структурно-разностной сегментации полутоновых растровых изображений изложены в публикациях [1...9]. Первым этапом сегментации является классификация растровых элементов по структуре разностей между интенсивностью регистрируемого параметра текущего элемента и интенсивностью регистрируемого параметра элементов, соседних с текущим по восьми направлениям. На основании анализа этой структуры делают вывод о принадлежности элемента тому или иному классу. В статье [10] проведён анализ структуры разностей регистрируемого параметра текущего элемента, содержащего две низинные и две негативно-контурные пары направлений. Проанализируем аналогично распределение регистрируемого параметра в окрестности растрового элемента с координатами «i, j» по табл. 1.

Таблица 1

Распределение интенсивности регистрируемого параметра

Составим структурно-разностное описание данного элемента (табл. 2).

Таблица 2

Структурно-разностное описание элемента растрового изображения

Графически это описание интерпретируется следующим образом (рис. 1).

Рис. 1. Графическая интерпретация структурно-разностного описания элемента

Как видим, структурная последовательность пар направлений данного элемента следующая: вершинная, негативная, позитивная, позитивно-контурная. Наивысшим приоритетом в данной структурной последовательности обладает позитивная пара направлений. Таким образом, данный элемент следует отнести к позитивным.

Библиографическая ссылка